///  超越所見(jiàn)，探索未知 ///

JSM-IT710HR  降低荷電:  樣品提供：東京農(nóng)工大學(xué) 工學(xué)部生命工學(xué)科  朝倉(cāng)哲郎先生

JSM-IT710HR  晶體結(jié)構(gòu)分析:  樣品提供：物質(zhì)材料研究所(NIMS)  津﨑 兼彰先生

  新功能                                                                                                                              

1. 自動(dòng)觀察：Simple SEM/EDS

   Simple SEM 通過(guò)一次設(shè)定多個(gè)條件來(lái)實(shí)現(xiàn)自動(dòng)測(cè)試，提高了日常工作效率。

2. Live 3D: 實(shí)時(shí)3D

   在低倍率下可以觀察3D活圖像。

3. JSM-IT710HR  熱場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡 低真空混合二次電子檢測(cè)器（LHSED）

   LHSED是新型低真空檢測(cè)器，能夠在光發(fā)射信息和形貌像之間切換觀察。

4. 肖特基場(chǎng)發(fā)射電子槍的穩(wěn)定性提高了4倍多

> 自動(dòng)電子束調(diào)整

   JSM-IT7010HR從合軸到像散、對(duì)焦可以自動(dòng)調(diào)整，不需繁瑣的手動(dòng)。

> 二次電子檢測(cè)系統(tǒng)

    左側(cè)樣品：孔雀羽毛,  右側(cè)樣品：纖維素微纖維

> 高分辨率和大束流

    JSM-IT710HR的肖特基場(chǎng)發(fā)射電子槍和聚光鏡一體化集成，在生成大束流的同時(shí)保持小束斑，能夠進(jìn)行高分辨觀察和分析。

> 背散射電子檢測(cè)系統(tǒng)

    新型的多分割背散射檢測(cè)器可以同時(shí)從4個(gè)方向采集背散射信息，生成簡(jiǎn)單的3D像并實(shí)時(shí)顯示。

5. 所有分析都從Zeromag開(kāi)始

  使用Zeromag的光學(xué)像，視野搜尋能力提高；SEM像與光學(xué)像聯(lián)動(dòng)，觀察、分析和自動(dòng)測(cè)試簡(jiǎn)單化。

6. JSM-IT710HR  熱場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡 EDS一體化集成

  JEOL除了SEM，還自主生產(chǎn)和銷售EDS。利用這一優(yōu)勢(shì)，可以集中操作和管理SEM的觀察畫面和EDS分析結(jié)果，操作性和數(shù)據(jù)管理能力得到了提高。

7.   熱場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡相分析

    JEOL的EDS增加了相分析功能，可以對(duì)每種物質(zhì)（化合物/單體）進(jìn)行面分布分析。

樣品：精密切削刀片的截面

相分析表明，Co、Cu和Sn富區(qū)組分存在差異。

Co area: 68.15%

CuSn (CuRich) area: 16.25%

CuSn (SnRich) area: 14.54%